HS 9031.49.10
用于测量半导体晶圆表面固体颗粒污染的光学仪器及设备
品目描述
- 印尼文
- - - - Instrumen dan peralatan optik untuk mengukur kontaminasi partikel padat pada permukaan wafer semikonduktor
- 中文
- 用于测量半导体晶圆表面固体颗粒污染的光学仪器及设备机器翻译，以印尼文法定文本为准
- 英文
- - - - Optical instruments and appliances for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers
- 品目
- 9031
税则层级
- Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this Chapter; profile projectors.
- - Other optical instruments and appliances :
- - - Other :
- - - - Optical instruments and appliances for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers
进口税率
| 进口关税 Bea Masuk (MFN) | 0.00% | PMK Nomor 50 Tahun 2026 |
|---|---|---|
| 增值税 PPN | 12.00% | PMK Nomor 131 Tahun 2024 |
| 所得税 PPh 22（有 API） | 2.50% (API) | |
| 所得税 PPh 22（无 API） | 7.50% (NON-API) |
计税口径：进口价值 Nilai Impor = CIF + BM；PPN = (CIF+BM) × 11/12 × 12%；PPh 22 = (CIF+BM) × 2.5%（有 API）或 7.5%（无 API）。
FTA 优惠税率
| Form E (ACFTA / 中国-东盟) | 0% | PMK 46/PMK.010/2022 |
|---|---|---|
| RCEP-China | 0% | PMK 224/PMK.010/2022 |
所有可用优惠税率都不低于 MFN，走 FTA 不划算
进口管制 Lartas
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数据抓取时间：2026-08-24T16:18:53.053Z 来源：INSW